金相分析儀利用提供的分析結(jié)果，對(duì)金屬或其它材料的基體組織、雜質(zhì)含量、組織成分等進(jìn)行、客觀地分析，為產(chǎn)品質(zhì)量提供可靠的依據(jù)，可使企業(yè)質(zhì)量控制更具科學(xué)依據(jù)，避免用戶因產(chǎn)品質(zhì)量問題或生產(chǎn)廠家因質(zhì)量糾紛、用戶索賠而帶來的損失，提高企業(yè)管理水平和對(duì)外形象。是企業(yè)從事科技新產(chǎn)品開發(fā)，產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控的有效工具！  

測(cè)量晶粒度是金相檢驗(yàn)工作中經(jīng)常進(jìn)行的檢驗(yàn)項(xiàng)目。傳統(tǒng)的方法是參照有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中的標(biāo)準(zhǔn)圖片，采用與標(biāo)準(zhǔn)圖片相比較的方法評(píng)定出晶粒度級(jí)別，此方法簡(jiǎn)便、速度快，但主觀上的誤差也比較大。若采用GB6394中規(guī)定的另外兩種方法，即面積法和截點(diǎn)法(仲裁方法)，雖然可獲得準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，但這兩種方法使用起來很不方便，其繁瑣程度令人望而生畏。如果使用圖像分析儀采用截點(diǎn)法進(jìn)行晶粒度測(cè)定，則可以直接而迅速地求出晶粒度級(jí)別。  

截點(diǎn)法是通過統(tǒng)計(jì)給定長(zhǎng)度的測(cè)量網(wǎng)格上的晶界截?cái)?shù)來測(cè)定晶粒度的，其晶粒度級(jí)別指數(shù)G的計(jì)算公式為：  

G=-3.2877+6.6439lg(M×N/L)  

式中：L-所使用的測(cè)量網(wǎng)格長(zhǎng)度(mm)  

M-觀察用的放大倍數(shù)  

N-測(cè)量網(wǎng)格L上的截點(diǎn)數(shù)  

L、M為已知數(shù)，只需測(cè)得N，圖像分析儀就可以得出晶粒度級(jí)別。在實(shí)測(cè)工作時(shí)，由于晶粒內(nèi)部可能存在各種析出物以及因腐蝕控制不當(dāng)而造成晶界斷裂，給準(zhǔn)確測(cè)定帶來一定的困難，需采用圖像分析儀中的腐蝕與膨脹功能，去除晶粒內(nèi)的析出物和對(duì)晶界進(jìn)行重建，以得到完整的晶粒圖像。
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